截止日期：2012-12-05

超泰科技感謝長期以來對產品的支持與厚愛,為了促進公司與用戶間的溝通以及將國際上電子顯微鏡領域的新發展和新技術介紹給大家,將於2012年12月11日在臺灣大學舉辦電子顯微鏡新技術交流會,報告涉及透射電子顯微鏡(TEM)掃描透射電子顯微鏡(STEM)微束分析(Micro analysis)掃描電子顯微鏡(SEM)雙束聚焦顯微鏡(Dual FIB/SEM)等儀器的新發展,以及他們在金屬,陶瓷,半導體及奈米科技等領域中的應用。



會議地點：臺灣大學工學院,綜合大樓494室

會議時間及日程：2012年12月11日（星期二）下午1:30~5:10

PM 1:30-2:00 報到

PM 2:00-3:00 雙束(FIB/SEM)及掃描電鏡(SEM)的新進展

PM 3:00-4:50 透射電鏡(TEM)及微束分析(Micro Analysis)的新進展

PM 4:50-5:10 Q&A



歡迎各位老師和專家參加本次交流會。

請於12月06日前電子郵件回附到會議籌備組，以便我們安排.謝謝合作！



會議籌備組聯繫方式：

Tracy 謝

E-mail:Tracy_Hsieh@ebtech.com.tw

電話:02-27332576



Edward 唐

E-mail: Edward.Tang@fei.com

電話：03-6116999*13033



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